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数字集成电路测试：理论、方法与实践

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装帧:平装
作者:李华伟
ISBN:9787302662037
出版日期:2025-1-1
书名:数字集成电路测试：理论、方法与实践
出版社:清华大学出版社
开本:24cm

本书从数字集成电路测试在数字芯片设计阶段发挥的重要作用出发，介绍了数字电路测试的完整技术体系，内容突出基础理论和关键技术，并以西门子EDA工具Tessent的设计脚本为例，介绍了这些技术在测试综合EDA工具中的使用流程。

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