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集成电路高可靠封装技术

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  • 装帧:平装
  • 作者:赵鹤然
  • ISBN:9787111701224
  • 出版日期:2022-4-1
  • 书名:集成电路高可靠封装技术
  • 出版社:机械工业出版社
  • 开本:26cm
本书应用理论和实际经验并重,共分为五章。第1章概括介绍了集成电路高可靠封装体系框架;之后四章讲解了划片、粘片、引线键合和密封四大工序,每章都介绍相应工序的基本概念,并将该工序的重点内容、行业内关注的热点、常见的失效问题及产生机理,按照小节逐一展开。
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